MDPpicts 溫度依賴的光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測(cè) 參考價(jià)：面議
MDPpicts溫度依賴的光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測(cè)MicrowaveDetectedPhotoInducedCurrentTransientSpectroscop...
MDPinline 晶圓片在線面掃檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
MDPinline是一種用于快速定量測(cè)量載流子壽命并集成掃描功能的檢測(cè)儀
MDPpro 晶圓片/晶錠壽命檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
Mono-andMulti-crystallinewaferandbricklifetimemeasurementdevice應(yīng)用范圍：用于常規(guī)質(zhì)量控制、精密材...
MDPlinescan在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
在線面掃和單點(diǎn)檢測(cè)應(yīng)用范圍：靈活的OEM設(shè)備，用于多種不同樣品的在線壽命測(cè)量：從單晶硅到多晶硅錠，從生成態(tài)晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過程控制
MDPmap 晶圓片壽命檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
Mono-andMulti-crystallinewaferlifetimemeasurementdevice應(yīng)用范圍：用于精密材料研發(fā)的單晶和多晶片的壽命測(cè)量...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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